描述：電子薄膜應力分布測試儀
該產品主要應用在微電子、光電子生產線上和科研、教學等領域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率
半徑測量測試。

電子薄膜應力分布測試儀型號：TRC-6341

該產品主要應用在微電子、光電子生產線上和科研、教學等領域Si、Ge、GaAs等半導體基片及電子薄膜應力分布、光學零件面形和平整度面形、 基片曲率

半徑測量測試。該儀器總測量點數多, 能給出全場面型分布結果, 適合于微電子生產線上產品質量的快速檢驗和微電子生產工藝研究。

電子薄膜應力分布測試儀儀器基于干涉計量的全場測試原理, 可實時觀測面型的分布, 迅速了解被測樣品的形貌及應力集中位置, 及時淘汰早期失效產品。

*的錯位相移技術

計算機自動條紋處理

測試過程全自動

良好的曲面補償測試原理

產品名稱：防爆型大氣采樣器 產品型號：FDC-1500

防爆型大氣采樣器 型號：FDC-1500

防爆型大氣采樣器，廣泛用于環境監測、衛生、工礦企業等部門，可作采集作業場所各種有害氣體和測定操作人員一個工作班內實際接觸粉塵情況及作業場所的粉塵濃度之用。
該采樣器根據MT162－95《作業場所粉塵采樣器通用技術條件》和Q/NF－03－2004粉塵采樣器企業標準及GB3836.4－2000標準中ExibⅡA等級（本質安全型）防爆設計，特別適用于含有爆炸危險性氣體的作業場所使用。具有采樣氣流脈動小、負載能力大、流量穩定、操作簡單、安全可靠、便于攜帶等特點。
技術參數
采樣流量： 0.1～1.5 L/ min
負載能力：>1000 Pa
流量穩定性：≤5 ％
定時范圍：0～99小時59分鐘內任意設置
連續工作時間：> 8 h
工作噪音：≤65dB (A)
電源：采用Ni－MH2.0A/H×5節鎳氫電池組，
外形尺寸： 137mm×88mm×45mm
儀器質量： 0.8 Kg

產品名稱：現貨 高純氫氣發生器 產品型號：GCQ-300

現貨 高純氫氣發生器型號：GCQ-300

高純氫氣發生器規格和參數 
輸出流量：0-300ml/min  
輸出壓力：0-0.4Mpa  
壓力穩定性：<0.2% 
氫氣純度：>99.999% 
zui大功率：150W 
輸出接口：3mm或1/8in（M8×1外螺紋） 
二次保護壓力：0.5MP    液罐容積：1.5升  
消耗水量：15ml/h 
水質要求：電阻率≥1MΩ/cm 
電源電壓：AC 230V (50/60 Hz)   保險管: 250V/2A 
工作條件：溫度10-40℃，相對濕度<85%，無嚴重粉塵 
高純氫氣發生器外形尺寸：420×200×330（L×W×H） 
高純氫氣發生器工作模式： 持續工作 
高純氫氣發生器包裝重量： 約14KG 
高純氫氣發生器特點：本儀器主要由電解系統、壓力控制系統和凈化系統組成。電解氫是采用良好的膜分離技術，由紅外光電裝置控制壓力，可使氫氣的產量按需量自動調整，維持壓力穩定。可取代高壓氫氣瓶，使用安全方便。自動控制，操作簡便。發生器內部管路有防止返液裝置